| 商品编码 | 90309000.01 |
| 商品名称 | 检测半导体晶片及器件的仪器零件 |
| 商品描述 | 检测半导体晶片及器件的仪器零件包括附件 |
| 英文名称 | Parts of the instruments for measuring semiconductor wafers and devices (including accessories) |
| HS编码 | 商品名称 | 商品规格 |
|---|---|---|
| 90309000.01 | 测试模组,用于晶片测试仪 | E7120-89805 |
| 90309000.01 | 半导体真空检测设备安装盒 | D37312080/265*185*125MM |
| 90309000.01 | 控制信号传输电路板,无品牌 | E6978-69527 |
| 90309000.01 | 测试板 | IC测试机V50用 |
| 90309000.01 | 探针卡架 | VLCT |
| 90309000.01 | 测试探头 | 7500PCS TEST PROBE |
| 90309000.01 | 单元模块,用于晶片测试仪 | E7088-89008 |
| 90309000.01 | J750系统通道板 | 型号239-026-30,测试集成电路 |
| 90309000.01 | 盖板 | 1PCS 1765-9726-01 |
| 90309000.01 | 半导体真空检测设备安装板 | A72601029/30*30*3MM |
