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商品编码 90308200.00  
商品名称 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
申报要素 1:品名;2:品牌类型;3:出口享惠情况;4:用途;5:功能;6:是否带记录装置;7:品牌(中文或外文名称);8:型号;9:测试结果显示内容(例如,电压值、电流值等);10:GTIN;11:CAS;12:其他;
法定第一单位
法定第二单位 千克
最惠国(%) 0
进口普通(%) 20%
出口从价关税率 -
增值税率 13%
退税率(%) 13%
消费税率 0%
商品描述 测试或检验半导体晶圆或器件(包括集成电路)用的仪器
英文名称 Other instruments and apparatus For measuring or checking semiconductor wafers or devices
特殊物品海关检验检疫编码  无
个人行邮(税号)  「27000000」
行邮名称 进口税税款 规格 单位
其他物品 30%
海关监管条件  「无」
HS法定检验检疫  「无」
CIQ代码(13位海关编码) 
HS编码 商品信息
9030820000.999 检测半导体晶片或器件的仪器(包括测试或检验半导体晶片或元器件用的装置)
申报实例汇总
HS编码 商品名称 商品规格
90308200.00 分立元件测试器 (用于测量晶体管、二极管,品牌:RS,欧姆(有显示结果,显示电阻值,测试范围2kΩ-200)
90308200.00 硅片断面特性检测仪 (旧)(S-43002001年产)
90308200.00 集成电路检测仪 (测试仪用)(RENESAS牌R0K33026AS000BE)
90308200.00 I.C测试器 (用于测试I.C是否故障,有显示结果,192503)(显示是否故障,适用于最多40个引脚的设备,)
90308200.00 半导体晶片测试仪 (OMICRONCPC100)
90308200.00 二极管测试机 (JL-16)
90308200.00 集成电路检测仪 (品牌:AMD)(用于检测CPU记存器是否有数据)
90308200.00 半导体测试机 (GPC-A351)
90308200.00 硅片离子注入状态检测仪 (旧)(TP4201995年产)
90308200.00 硅片外延状态检测仪 (旧)(QS-3001991年产)
90308200.00 半导体测试治具/NVIDIA牌 (600-10551-0001-000)
90308200.00 半导体检测器 (uni580/spider01)
90308200.00 硅片金属膜厚度检测仪 (旧)(MG-3001994年产)
90308200.00 晶体检测仪 (NP3112816)
90308200.00 芯片测试机 (320MX(品牌:SPEA))
90308200.00 晶体频率测试仪 (型号KH8210KOLINKER牌)
90308200.00 半导体晶体测试仪 (型号:KG200KOLINKER牌)
90308200.00 测试机 (测试或检验半导体晶片或器件用)
90308200.00 硅片自动分选机 (旧)(Roba1502Ls1999年产)
90308200.00 晶体中间频率测试仪 (型号KS300KOLINKER牌)
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